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寫(xiě)真化學(xué)膜厚測定裝置

簡(jiǎn)要描述:寫(xiě)真化學(xué)膜厚測定裝置
分為:標準型號、紅外透射式型號、自動(dòng)映射膜厚儀、成像膜厚儀

  • 產(chǎn)品型號:反射/透射
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間:2023-12-07
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:745
詳細介紹
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寫(xiě)真化學(xué)膜厚測定裝置

 

標準型號可測量膜厚對象:

抗蝕劑厚度

多孔膜

ITO

多晶硅

電池電極

玻璃粘合晶片

端點(diǎn)檢測

貼合晶片等

 

自動(dòng)映射膜厚儀

可測量膜厚對象:

抗蝕劑厚度

貼合晶片

多孔膜

ITO

多晶硅

電池電極

玻璃粘合晶片

帶圖案晶片等

 

分為:標準型號、紅外透射式型號、自動(dòng)映射膜厚儀、成像膜厚儀

 

寫(xiě)真化學(xué)膜厚測定裝置

通用型膜厚監視器(標準型號)

可用作端點(diǎn)監視器

也可以對應粘接劑層、玻璃層等通常較難測量的材料

 

通用型膜厚監視器(紅外透射式型號)

對應反射弱的薄膜材料

可對應卷對卷測量

 

自動(dòng)映射膜厚儀

除了高速自動(dòng)映射、等高線(xiàn)、3D圖顯示之外,還自動(dòng)解析直方圖等統計信息

標準對應φ100300mm的圓形晶圓,也可對應方形被測物等特殊形狀,可選配定制載物臺板

可對應選配項目中的自動(dòng)校準

 

成像膜厚儀

微細二維膜厚分布原位的可視化

通過(guò)在GUI上區域,計算微小區域的膜厚


 


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